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摘要:
本文基于第一性原理对硅取代、掺杂石墨烯纳米带不同位置的电子能带结构、态密度及电子器件的电子输运性质进行了分析与研究.结果表明,锯齿形石墨烯纳米带(ZGNRs)在硅原子取代及掺杂后由原来的半导体态转变为金属态.在各种模型中,对于体系态密度有贡献的一般为原子指数为1、在p轨道的硅原子(Si1p);原子指数为2、在p轨道的硅原子(Si2p)和碳原子(C2p);少量的原子指数为1、在s轨道的氢原子(H1s)和碳原子(C1s).经分析,在各取代位置中两端硅原子取代的锯齿形石墨烯纳米带的体系能量最小,表明其为最有可能发生的取代位置.在掺杂位置中,体系能量计算结果显示填隙硅原子的能量更低,最有可能发生此种掺杂.电子输运性质的研究中,在所有的取代位置中单边硅原子取代组成的电子器件电子输运性质最好.在所有电子器件模型中电子输运性质最好的是填隙硅原子掺杂模型.
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文献信息
篇名 基于第一性原理对硅取代、掺杂锯齿形石墨烯纳米带的电子结构及输运性质的研究
来源期刊 人工晶体学报 学科 物理学
关键词 石墨烯纳米带 第一性原理 能带结构 态密度 输运性质
年,卷(期) 2015,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 808-815
页数 8页 分类号 O469
字数 3203字 语种 中文
DOI
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 宓一鸣 上海工程技术大学材料工程学院 37 195 7.0 13.0
2 陈莹莹 上海工程技术大学材料工程学院 15 101 6.0 9.0
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石墨烯纳米带
第一性原理
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研究起点
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人工晶体学报
月刊
1000-985X
11-2637/O7
16开
北京朝阳区红松园1号中材人工晶体研究院,北京733信箱
1972
chi
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