电子辐照下GaAs/Ge太阳电池载流子输运机理研究?

• 作者: 吴宜勇 周扬 张子锐 徐建文 杨晓明 王月媛 盛延辉 胡建民 齐佳红
• 来源期刊: 物理学报
• 关键词: GaAs太阳电池 辐照损伤 载流子浓度 载流子扩散长度
• 年，卷（期）: 2015,（10）
• 所属期刊栏目: 物理学交叉学科及有关科学技术领域
• 页码范围: 108802-1-108802-6
• 页数: 1页
• 语种: 中文
• DOI: 10.7498/aps.64.108802

摘要

通过地面模拟辐照试验获得不同能量电子辐照下GaAs/Ge太阳电池电学参数退化的基本规律，在此基础上使用PC1 D模拟程序分析太阳电池内部的载流子输运机理，建立不同能量的电子辐照下GaAs/Ge太阳电池中多数载流子浓度和少数载流子扩散长度随辐照粒子注量变化的基本规律。研究结果表明：多数载流子浓度和少数载流子扩散长度均随入射电子注量的增大而减小，多数载流子去除率和少数载流子扩散长度损伤系数均随电子能量的增高而增大，多数载流子去除效应和少数载流子扩散长度缩短分别是电池开路电压和短路电流退化的主要原因。