高数值孔径对STED超分辨显微成像技术的影响

• 作者: 冯继宏 张弘 张森 高辛未
• 来源期刊: 生物工程前沿：中英文版
• 学科: 物理学
• 关键词: 受激发射损耗显微 分辨率 光强分布 数值孔径 半高宽
• 年，卷（期）: 2016,（1）
• 页码范围: 1-5
• 页数: 5页
• 分类号: O436.1

摘要

在本文中,我们分析了不同高数值孔径对受激发射损耗(STED)显微中损耗光光强分布的影响。根据Debye矢量衍射积分公式,模拟计算了STED显微成像中,损耗光经过螺旋相位板,再经过高数值孔径(NA)透镜时的聚焦特性。从结果中我们可以得到,当数值孔径增大时,损耗光的半高宽(FWHM)大小会减小,但是当NA从1.15变到1.30时,半高宽保持不变,当NA=1.35,1.4的时,半高宽有向上增加的趋势。结果表明:一般来说当NA增大时,STED显微的分辨率是提高的,但是不能严格地说,数值孔径越大,STED显微镜的分辨率越大。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冯继宏		16	55	5.0	7.0
2	张森		7	39	3.0	6.0
3	高辛未		4	2	1.0	1.0
4	张弘		4	2	1.0	1.0