电力电子器件损耗的测试与计算研究

• 作者: 夏兴国
• 来源期刊: 齐齐哈尔大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 电力电子器件 IGBT 开关损耗 功率损耗 测试
• 年，卷（期）: 2016,（1）
• 页码范围: 1-5
• 页数: 5页
• 分类号: TP301.6
• 字数: 3725字
• 语种: 中文

摘要

电力电子器件是功率变换装置系统的主要组成部分，在工作中会产生功率损耗，降低了能量转换效率，损耗过大还会影响到器件自身安全和系统的性能指标。以Buck电路为对象作为器件IGBT损耗测试的实验平台，设定了几种器件损耗的主要影响因素，并建立基准值。通过这些影响因素的来同取值对IGBT反复测试，测出示波器中IGBT工作时的电压和电流波形后，转化成数据的方式来保存输出结果到计算机，利用算法编程来计算出相应损耗功率值。最后，对影响损耗的相关因素进行分析和总结。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	夏兴国		41	55	4.0	5.0