基于FPGA的并行测试高速存储技术

• 作者: 丁志钊 文丰
• 来源期刊: 现代工业经济和信息化
• 学科: 工学
• 关键词: 并行测试 高速数据存储 FPGA NAND Flash
• 年，卷（期）: 2016,（4）
• 所属期刊栏目: 工程技术
• 页码范围: 33-35
• 页数: 3页
• 分类号: TP274.2
• 字数: 2199字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16525/j.cnki.14-1362/n.2016.04.14

摘要

为实现并行测试系统高速数据的存储需求,利用FPGA(Field-Programmable Gate Array)以并行控制的特性,内部构建两级多通道并行缓存架构,设计了一种大幅提高数据存储速度的高效的实现方法.在硬件方面,利用多片NAND Flash构成多通道存储阵列,通过在通道间并行操作,通道内芯片的流水线操作,结合FPGA内部的高速数据缓存机制来解决数据存储的速度瓶颈.测试结果表明该模块具有存储速度高,扩展性强等特点,能广泛应用于高速海量数据存储需求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	文丰	中北大学电子测试技术国家重点实验室	44	321	10.0	16.0
2	丁志钊	中国电子科技集团公司第十一研究所	8	20	2.0	4.0