光电耦合器可靠性研究与应用

• 作者: 施清清
• 来源期刊: 家电科技
• 关键词: 光耦 塌丝 金线 绑定结构
• 年，卷（期）: 2016,（4）
• 所属期刊栏目: 技术
• 页码范围: 83-85
• 页数: 3页
• 字数: 2117字
• 语种: 中文

摘要

本文从光耦生产使用过程、光耦失效机理、器件内部结构、器件工艺设计、器件应用环境、器件设计质量可靠性等方面进行全面分析.通过器件失效机理、X光、开封性能参数测试分析等对光耦器件本身全方位分析论断,根据分析结果调整光耦内部结构设计以及生产工艺,从器件本身应用环境、器件可靠性设计、光耦内部结构设计全面论证分析整改,从器件本身质量提升着手,进行全面、系统化提升器件质量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	施清清		6	5	2.0	2.0