天线加速老化测试剖析

• 作者: 余勇青 文伟东
• 来源期刊: 电信技术
• 关键词: 天线 老化 生命周期 质保期
• 年，卷（期）: 2016,（8）
• 所属期刊栏目: 天线质量与测试
• 页码范围: 92-96
• 页数: 5页
• 字数: 3516字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1247.2016.08.017

摘要

针对移动通信行业基站天线类产品,以最终质量为起始点,从定性的角度出发,研究天线产品长期的可靠性,观察随着时间推移,在产品生命周期后期,因材料变化和使用频次的增加而带来的失效率的变化,为天线设计和扩展质保期提供实际环境的数据支持.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	文伟东		2	0	0.0	0.0
2	余勇青		1	0	0.0	0.0