基于65 nm 工艺的多端口可配置 PUF 电路设计

• 作者: 张跃军 李刚 汪鹏君 钱浩宇
• 来源期刊: 电子与信息学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电路设计 物理不可克隆函数 多端口 可配置
• 年，卷（期）: 2016,（6）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 1541-1546
• 页数: 6页
• 分类号: TP331
• 字数: 3851字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11999/JEIT150968

摘要

物理不可克隆函数(Physical Unclonable Function, PUF)电路利用结构完全相同的电路在制造过程中存在的随机工艺偏差，产生具有唯一性、随机性和不可克隆性的密钥。该文通过对共源共栅电流镜的研究，提出一种基于电流镜工艺偏差的多端口可配置 PUF 电路。该 PUF 电路由输入寄存器、偏差电压源、复用网络、判决器阵列和扰乱模块构成，通过激励信号配置偏差电压源，无需更换硬件便可实现输出密钥的变化，且可在一个时钟周期内输出多位密钥。在 SMIC 65 nm CMOS 工艺下，采用全定制方式设计具有36个输出端口的 PUF 电路，版图面积为24.8μm×77.4μm。实验结果表明，该 PUF 电路具有良好的唯一性和随机性，且工作在不同温度(-40~125°C)和电压(1.08~1.32 V)下的可靠性均大于97.4%，可应用于信息安全领域。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	汪鹏君	宁波大学电路与系统研究所	137	551	11.0	14.0
2	张跃军	宁波大学电路与系统研究所	38	97	5.0	8.0
3	李刚	宁波大学电路与系统研究所	20	38	4.0	4.0
4	钱浩宇	宁波大学电路与系统研究所	7	19	3.0	4.0