三维IP核绑定前后总测试时间的优化方法

• 作者: 任福继 刘军 吴玺 王伟 钱庆庆 陈田
• 来源期刊: 计算机工程与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 三维IP核 测试外壳扫描链 绑定前测试时间 绑定后测试时间
• 年，卷（期）: 2016,（22）
• 所属期刊栏目: 理论与研发
• 页码范围: 44-48,54
• 页数: 6页
• 分类号: TP303
• 字数: 4722字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3778/j.issn.1002-8331.1412-0164

摘要

为了减少三维IP（Intellectual Property）核绑定前和绑定后的测试总时间，提出了一种测试外壳扫描链优化方法。方法首先将三维IP核的所有扫描元素投影到一个平面上，用BFD算法将扫描元素分配到各条测试外壳扫描链，以减少绑定后的测试时间。再用提出的AL（Allocate Layer）算法将扫描元素分配到各层电路中，使得绑定前各条测试外壳扫描链的长度也能够平衡，以减少绑定前的测试时间和TSVs数量，并且AL算法能够使得各层电路所含的扫描元素总长度也尽可能的相等。实验结果表明，与国际上已有的方法相比，所提方法绑定前和绑定后的测试总时间减少了3.17%~38.18%，并且三维IP核各层电路所含的扫描元素总长度更加均衡。