小样本数据下功率模块开关损耗模型研究?

• 作者: 李志刚 梅霜
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 功率模块 开关损耗 SVM 小样本
• 年，卷（期）: 2017,（1）
• 所属期刊栏目: 电子电路设计分析及应用
• 页码范围: 228-231
• 页数: 4页
• 分类号: TN3
• 字数: 2628字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2017.01.043

摘要

在研究新能源系统可靠性时，功率模块IGBT的开关损耗的准确预测是非常重要的。采用功率模块的开关动态测试系统进行试验，可以自动调整直流母线电压、集电极电流、门极驱动电压和门极电阻，记录开关动态电压、电流波形，通过处理获取精确的开关损耗值。基于试验数据的基础上，通过SVM算法建立开关损耗模型，改善了现有的基于小样本数据的开关损耗模型。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李志刚	河北工业大学电气工程学院	150	975	15.0	22.0
2	梅霜	河北工业大学电气工程学院	7	45	3.0	6.0