28 nm Xilinx Zynq-7000系统芯片单粒子效应研究进展

• 作者: 任晓堂 刘书焕 张瑶 李永宏 杜雪成 杨卫涛 贺朝会
• 来源期刊: 现代应用物理
• 学科: 工学
• 关键词: 系统芯片 单粒子效应 α粒子 质子 故障注入
• 年，卷（期）: 2017,（2）
• 所属期刊栏目: 核物理、粒子物理、射线束与探测技术
• 页码范围: 30-35
• 页数: 6页
• 分类号: TN406
• 字数: 3590字
• 语种: 中文
• DOI: 10.12061/j.issn.2095-6223.2017.020202

摘要

以Xilinx公司的28 nm系统级芯片(system-on-chip,SoC)Zynq-7000为研究对象,开展了α单粒子效应实验和低能质子单粒子效应实验,测得了系统级芯片的α单粒子效应敏感模块、单粒子效应截面及不同模块质子单粒子效应截面随能量变化的关系曲线.采用软件故障注入技术获得了系统级芯片多个功能单元的敏感单元以及故障表现类型,并且通过建立系统芯片软错误故障树,定量计算了系统芯片及其各功能单元的故障率和不可用度,确定了系统和子系统中的敏感模块.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	贺朝会		35	120	5.0	10.0
2	刘书焕		15	33	4.0	5.0
3	张瑶		22	38	3.0	5.0
4	李永宏		12	77	3.0	8.0
5	任晓堂	北京大学核物理与核技术国家重点实验室	8	14	2.0	3.0
6	杜雪成		3	1	1.0	1.0
7	杨卫涛		2	1	1.0	1.0