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摘要:
分析了CMP后电子元件表面清洗存在的问题,综述了CMP后清洗技术的发展现状,详细阐述了兆声波清洗技术的原理、工艺流程、工艺参数及特点,介绍了兆声波清洗在CMP超精抛光加工技术中的应用与前景.
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文献信息
篇名 CMP超精密抛光元件兆声波清洗工艺和应用
来源期刊 清洗世界 学科 工学
关键词 化学机械抛光 超精密抛光 兆声波 清洗工艺
年,卷(期) 2017,(12) 所属期刊栏目 专论与综述
研究方向 页码范围 43-45
页数 3页 分类号 TN305.97
字数 2581字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1671-8909.2017.12.011
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘玉林 18 29 3.0 4.0
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研究主题发展历程
节点文献
化学机械抛光
超精密抛光
兆声波
清洗工艺
研究起点
研究来源
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研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
清洗世界
月刊
1671-8909
11-4834/TQ
大16开
北京空港工业B区安祥路5号
2-640
1985
chi
出版文献量(篇)
4408
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7
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7347
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