硅基光子交换芯片的路由控制与性能测试

• 作者: 廖明乐 武保剑 邱昆 黄维
• 来源期刊: 光电子·激光
• 学科: 工学
• 关键词: 光开关 路由算法 载流子吸收
• 年，卷（期）: 2017,（9）
• 所属期刊栏目: 光电子器件和系统
• 页码范围: 933-940
• 页数: 8页
• 分类号: TN256
• 语种: 中文
• DOI: 10.16136/j.joel.2017.09.0042

摘要

设计了电压输出范围分别是0～10 V和0～2 V、调节精度为10 mV的可扩展热控电路和电控电路,用于实现16×16光子集成芯片的工艺误差补偿和光开关切换.描述了由硅(Si)基马赫-曾德尔(MZI)光开关单元组成的16×16光子集成芯片控制过程,提出了基于光开关传输性能的改进环路路由算法,此算法适用于光开关性能劣化或局部出现故障的情形.搭建了运行有改进路由算法的光交换芯片测试系统,实验结果表明,芯片模块的插入损耗小于33 dB,串扰小于--10 dB,能够实现无误码传输要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邱昆		128	605	12.0	17.0
2	武保剑		72	198	7.0	11.0
3	廖明乐		3	6	1.0	2.0
4	黄维		1	0	0.0	0.0