民用飞机单粒子翻转问题研究

• 作者: 刘兴华 唐志帅 王延刚
• 来源期刊: 电气自动化
• 学科: 工学
• 关键词: 单粒子翻转 专用集成电路器件 现场可编程门阵列 三模冗余 复杂电子硬件
• 年，卷（期）: 2017,（6）
• 所属期刊栏目: 计算机技术及其应用
• 页码范围: 32-33,54
• 页数: 3页
• 分类号: TP311
• 字数: 2645字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3886.2017.06.010

摘要

单粒子翻转(Single Event Upset,SEU)效应是机载复杂电子硬件设计所必须考虑的重要问题,对SEU效应进行了描述,分析了复杂电子设备经常用到的芯片类型(专用集成电路器件、反熔丝FPGA、SRAM型FPGA、Flash型FPGA)及其优缺点,总结了三模冗余、纠错码、擦洗、系统监控这四种常见的SEU减缓技术,对于国内民机机载复杂电子硬件的设计具有参考意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘兴华		9	34	4.0	5.0
2	唐志帅		6	9	2.0	2.0
3	王延刚		3	2	1.0	1.0