磁显微测量超导带材表面电流密度分布

• 作者: 丁然 任道远 李园园 李天 李方 杨吉成 王三胜 霍可佳
• 来源期刊: 测试技术学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 超导带材 磁显微测量 磁场分布 电流密度 无损检测
• 年，卷（期）: 2017,（3）
• 所属期刊栏目: 数据采集与图像处理
• 页码范围: 254-259
• 页数: 6页
• 分类号: O514.2
• 字数: 2506字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.2017.03.012

摘要

基于缺陷周围磁场异常变化的检测原理, 通过磁场检测和运动控制的结合, 建立了基于霍尔传感器和三维机械运动平台的缺陷区域检查和定位系统.利用该系统对浸泡在液氮中的超导带材BI2121(长5 cm宽1 cm)进行磁显微测量, 可以观察超导带材自场分布.根据毕奥萨伐尔定律, 磁场值经过二维傅里叶逆运算确定电流密度分布, 观察电流密度异常分布推断出被测样品缺陷的位置和大小.实验结果表明霍尔探头扫描显微镜是一个诊断超导体特性有用的工具, 为无损检测技术提供一种快速简便的方法.