基于J750EX测试系统的大容量NOR型FLASH测试方法

• 作者: 倪晓东 季伟伟 张凯虹 杜元勋
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: NOR型 FLASH DSIO J750EX
• 年，卷（期）: 2017,（9）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 10-14
• 页数: 5页
• 分类号: TN307
• 字数: 2218字
• 语种: 中文

摘要

NOR型FLASH存储器因其技术显著的高可靠性、能长久存储代码数据的非易失性(Non-Volatile)特点,在关注可靠性胜过性价比的军工和航空航天领域应用十分广泛.但由于此类器件在线编程及擦除操作较繁琐,从而使得利用自动测试系统对其进行测试具有较高难度.因此,探索NOR型FLASH存储器的测试技术,并开发此类器件的测试平台具有十分重要的意义.首先以MICRON公司的PC28F00AM29EW为例,介绍了NOR型FLASH存储器的基本工作原理,接着详细阐述了一种采用J750EX测试系统的DSIO模块结合FLASH分块操作的测试方法,从而能够更简便、高效地对NOR型FLASH存储器的功能进行评价.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜元勋	中国电子科技集团公司第五十八研究所	6	3	1.0	1.0
2	张凯虹	中国电子科技集团公司第五十八研究所	20	27	3.0	4.0
3	季伟伟	中国电子科技集团公司第五十八研究所	2	0	0.0	0.0
4	倪晓东	中国电子科技集团公司第五十八研究所	1	0	0.0	0.0