中子数字成像FPGA抗辐照技术研究

• 作者: 孟艳丽 王延杰 王连明 田睿 黄继鹏
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 中子成像 FPGA 三判二 中值滤波 无损检测
• 年，卷（期）: 2017,（7）
• 所属期刊栏目: 粒子束技术
• 页码范围: 54-59
• 页数: 6页
• 分类号: TL99|TN43
• 字数: 3186字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11884/HPLPB201729.170009

摘要

中子数字成像试验中,现场可编程门阵列(FPGA)是重要的成像逻辑控制器件.然而,中子辐照易引起FPGA的单粒子效应,对中子成像引入本底噪声,因此必须采取措施,减少中子辐照对FPGA成像的影响.结合图像周期性的特点,采用三判二的技术方法替代三模冗余,裁决成像关键信号;采用硬件实现的中值滤波算法,平滑由于RAM区单粒子翻转等原因呈现在图像上的噪点.仿真结果表明,本文采用的两种技术方法不但降低资金成本,提高FPGA资源冗余度,而且在取得良好的抗辐照滤波效果的同时,保留图像细节.时序仿真和硬件平台验证了设计的正确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王延杰	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	116	1871	21.0	38.0
2	田睿	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	13	97	6.0	9.0
3	王连明	东北师范大学物理学院	46	372	9.0	18.0
4	黄继鹏	东北师范大学物理学院	8	14	2.0	3.0
5	孟艳丽	东北师范大学物理学院	4	13	2.0	3.0