SRAM型FPGA单粒子辐照试验系统技术研究

• 作者: 刘增荣 孙雷 段哲民 陈雷
• 来源期刊: 计算机工程与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 现场可编程门阵列(FPGA) 空间辐射 单粒子效应 SelectMAP 回读 静态随机存储器(SRAM)
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 所属期刊栏目: 理论研究、研发设计
• 页码范围: 49-52
• 页数: 4页
• 分类号: TP271.5
• 字数: 2385字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3778/j.issn.1002-8331.1208-0196

摘要

单粒子辐射效应严重制约FPGA的空间应用，为提高FPGA在辐射环境中的可靠性，深入研究抗辐射加固FPGA单粒子效应评估方法，设计优化单粒子效应评估方案，开发相应的评估系统，提出基于SRAM时序修正的码流存储比较技术和基于SelectMAP端口配置回读技术。借助国内高能量大注量率的辐照试验环境，完成FPGA单粒子翻转（SEU）、单粒子闩锁（SEL）和单粒子功能中断（SEFI）等单粒子效应的检测，试验结果表明，该方法可以科学有效地对SRAM型FPGA抗单粒子辐射性能进行评估。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	段哲民	西北工业大学电子信息学院	131	829	14.0	19.0
2	孙雷	西北工业大学电子信息学院	3	9	2.0	3.0