抗SEU动态刷新FPGA的仿真验证技术研究

• 作者: 刘国斌 刘芳汝 姜丽梅 祝周荣
• 来源期刊: 数字技术与应用
• 学科: 工学
• 关键词: FPGA SEU 动态刷新 SRAM
• 年，卷（期）: 2018,（2）
• 所属期刊栏目: 应用研究
• 页码范围: 40-42
• 页数: 3页
• 分类号: TN791
• 字数: 2682字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19695/j.cnki.cn12-1369.2018.02.24

摘要

SRAM型FPGA在航天领域有着广泛的应用,配置刷新能提高SRAM型FPGA抗单粒子翻转的能力,目前宇航SRAM型FPGA的抗SEU动态刷新电路设计技术已经较为成熟,但是如何验证其功能正确性,没有给出特殊方法.本文提出四种消除单粒子效应造成的软故障的抗SEU的FPGA设计方式,并重点针对周期性闭环配置刷新方式进行了仿真验证技术研究,找出验证该模式的关键验证要点,供验证人员作为指导.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	祝周荣		10	19	3.0	4.0
2	姜丽梅		3	5	2.0	2.0
3	刘国斌		8	13	3.0	3.0
4	刘芳汝		2	3	1.0	1.0