基于FPGA芯片的抗单粒子翻转的动态刷新技术研究

• 作者: 何小飞 徐玉婷 杨煜 章慧彬
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: FPGA 动态刷新 配置 单粒子翻转
• 年，卷（期）: 2019,（12）
• 所属期刊栏目: 微电子制造与可靠性
• 页码范围: 51-54
• 页数: 4页
• 分类号: TN402
• 字数: 3014字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2019.1211

摘要

在分析FPGA空间单粒子效应的基础上,为了实现星载电子设备运行的稳定性,研究FPGA的动态刷新原理,介绍了几种抗单粒子翻转方法,根据位流文件设计出用于动态刷新的指令并通过实例验证.通过FPGA定期从PROM中读取用户配置信息,动态刷新内部配置信息,从而减少FPGA配置存储器发生单粒子翻转的概率,提高星载电子设备运行的可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	章慧彬		2	1	1.0	1.0
2	杨煜		3	0	0.0	0.0
3	徐玉婷		4	2	1.0	1.0
4	何小飞		1	0	0.0	0.0