基于2个阶段遗传算法的MPRM电路面积与SER折中优化

• 作者: 卜登立 江建慧 罗文浪
• 来源期刊: 计算机辅助设计与图形学学报
• 学科: 工学
• 关键词: MPRM电路 面积优化 SER优化 遗传算法 Pareto最优
• 年，卷（期）: 2017,（10）
• 所属期刊栏目: VLSI设计与测试及电子设计自动化
• 页码范围: 1924-1934
• 页数: 11页
• 分类号: TP331.2|TP391.72
• 字数: 10825字
• 语种: 中文

摘要

随着组合电路对瞬时故障的敏感度不断增加在进行混合极性Reed-Muller(MPRM)电路优化时有必要将软错误率(SER)作为一个重要约束并以较高时间效率获得电路面积与SER的合理折中解.为此提出一种带历史缓冲区的2个阶段遗传算法TPGAHB来进行MPRM电路面积与SER折中优化.TPGAHB采用带历史缓冲区的GA模型分2个阶段实施面积与SER折中优化.第1阶段以面积为目标进行优化得到面积最优解;第2阶段利用Pareto最优原理量化偏好将面积最优解作为参考解计算MPRM电路解的面积与SER效率因子并以效率因子为目标进行优化从而得到面积与SER的合理折中解.对MCNC电路进行优化的结果表明TPGAHB具有较好的寻优能力能够以较高时间效率获得较好的面积与SER折中的MPRM电路对输入数超过14的电路也有较好适用性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗文浪	井冈山大学电子与信息工程学院	58	106	5.0	7.0
3	江建慧	同济大学软件学院	91	680	14.0	21.0
4	卜登立	井冈山大学电子与信息工程学院	26	90	5.0	8.0