基于改进椭圆偏振显微镜的纳米润滑薄膜动态观测

• 作者: 严飞 刘卿卿 郭颖
• 来源期刊: 光学学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 测量 显微镜 观测 椭圆偏振显微镜 润滑剂膜厚测量 分辨力
• 年，卷（期）: 2017,（8）
• 所属期刊栏目: 仪器,测量与计量
• 页码范围: 168-176
• 页数: 9页
• 分类号: O439
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/AOS201737.0812003

摘要

随着硬盘(HDDs)面记录密度的增加,读写数据时磁头的飞行高度不断降低.磁头与磁片表面液体润滑膜的接触,会在表面形成半月板,或润滑剂回升,造成润滑剂转移.观测液体润滑膜的转移过程以及其在磁头上的动态变化特性,是研究润滑剂性能的重要方面.改进基于垂直物镜的椭圆偏振显微镜(VEM),提出一种旋转起偏器的方法获得膜厚与被测光强的线性关系,实现磁头表面润滑膜动态观察,并对现有显微镜尤其是照明系统进行改进.实验以非极性全氟聚醚(PFPE)润滑剂Z03覆盖的磁头为样品对椭圆偏振显微镜进行标定.以极性PFPE润滑剂Zdol4000作为样品,对其在磁头表面的去湿现象进行观察.结果证明显微镜横向分辨力约0.36 μm.该方法可用于纳米级液体薄膜的可视化观测.