基于M451和SI5040的10G误码测试仪的设计与实现

• 作者: 彭魏魏 高学严
• 来源期刊: 无线互联科技
• 关键词: 10G误码测试 M451 SI5040
• 年，卷（期）: 2017,（7）
• 所属期刊栏目: 技术应用
• 页码范围: 129-130
• 页数: 2页
• 字数: 1613字
• 语种: 中文

摘要

10G误码测试仪是用于测量10G数据传输设备链路通道质量的一种重测试设备,是一种可靠的通信系统测量工具.10G误码测试仪被广泛地应用于通信设备的生产调试、检验以及日常维护等方面.根据此功能,文章研究并设计了一种基于M451和SI5040的误码测试仪,详细地分析和介绍了各个模块的工作原理.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高学严	江苏奥雷光电有限公司技术部	3	1	1.0	1.0
2	彭魏魏	江苏奥雷光电有限公司技术部	2	0	0.0	0.0