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摘要:
随着闪存编程/擦除循环次数的增加,多级单元(Multi-Level Cell,MLC)的氧化隔离层被破坏,进而导致闪存的可靠性急剧降低.针对这种情况,在深入分析MLC闪存信道模型和数据保持噪声模型的基础上,提出了一种MLC型NAND闪存的比特翻转译码算法.仿真结果表明,在MLC闪存信道下,该方法既可保证闪存单元的可靠性,又具有较短闪存单元的读取时间,从而实现了译码复杂度和性能间的良好折衷.
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文献信息
篇名 MLC型NAND闪存的比特翻转译码算法研究
来源期刊 微型机与应用 学科 工学
关键词 多级单元 低密度奇偶校验码 比特翻转译码算法
年,卷(期) 2017,(19) 所属期刊栏目 软件与算法
研究方向 页码范围 27-29,33
页数 4页 分类号 TP393.0
字数 2771字 语种 中文
DOI 10.19358/j.issn.1674-7720.2017.19.008
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张旋 28 27 3.0 4.0
2 李晓强 15 27 3.0 5.0
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研究主题发展历程
节点文献
多级单元
低密度奇偶校验码
比特翻转译码算法
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
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期刊影响力
信息技术与网络安全
月刊
2096-5133
10-1543/TP
大16开
北京市海淀区清华东路25号(北京927信箱)
82-417
1982
chi
出版文献量(篇)
10909
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33
总被引数(次)
35987
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