电力电子器件故障对微电网运行可靠性的影响

• 作者: 刘爽 牟龙华 许旭锋 郭文明
• 来源期刊: 电力系统保护与控制
• 关键词: 微电网 运行条件 电力电子器件 短时故障率 结温 运行可靠性
• 年，卷（期）: 2017,（24）
• 所属期刊栏目: 应用研究
• 页码范围: 63-70
• 页数: 8页
• 字数: 6492字
• 语种: 中文
• DOI: 10.7667/PSPC161961

摘要

提出计及运行条件影响的电力电子器件短时故障率模型,评估了器件故障对微电网运行可靠性的影响.首先阐述了IGBT和功率二极管两类重要电力电子器件的故障率与微电网运行条件紧密相关,然后基于器件的功率损耗模型与热模型,建立了器件短时停运率模型.结合场景分析法,基于所建模型提出了一套完整的微电网运行可靠性评估方法,评价器件故障对微电网运行可靠性指标的影响.将所提评估方法应用在改进的基准测试系统上,算例结果表明,器件故障对微电网的可靠性具有消极影响,所建可靠性模型相比传统评估方法能够提供更加准确全面的可靠性信息.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	牟龙华	同济大学电子与信息工程学院	123	1445	20.0	30.0
2	刘爽	同济大学电子与信息工程学院	17	126	8.0	11.0
3	郭文明	同济大学电子与信息工程学院	9	84	5.0	9.0
4	许旭锋	同济大学电子与信息工程学院	7	106	6.0	7.0