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摘要:
本文研究了一种快速寻找TFT-LCD制程设备内particle源并改善的方法,研究表明利用5W1H及相关性的科学分析方法建立粒子的分布模型-Particle Map,可快速定位particle源,使得Particle寻找及改善的过程大大缩短,快速降低异物不良,提升产品品质.
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文献信息
篇名 TFT-LCD设备内Particle分析改善方法研究
来源期刊 电子世界 学科
关键词 TFT-LCD ParticleSource ParticleMap ParticleSource消除
年,卷(期) 2017,(18) 所属期刊栏目 探索与观察
研究方向 页码范围 14-15,18
页数 3页 分类号
字数 1600字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李林杰 3 1 1.0 1.0
2 刘园园 2 1 1.0 1.0
3 王鹏 2 1 1.0 1.0
4 徐锋刚 1 1 1.0 1.0
5 郭兴奎 1 1 1.0 1.0
传播情况
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  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
TFT-LCD
ParticleSource
ParticleMap
ParticleSource消除
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子世界
半月刊
1003-0522
11-2086/TN
大16开
北京市
2-892
1979
chi
出版文献量(篇)
36164
总下载数(次)
96
总被引数(次)
46655
论文1v1指导