玉米光谱变分模态分解及其铜铅污染的VMD-CR-ED测度模型

• 作者: 孙彤彤 张伟 杨可明 王晓峰 程龙
• 来源期刊: 红外与毫米波学报
• 学科: 工学
• 关键词: 光谱分析 变分模态分解 污染监测模型 农作物 铜铅重金属
• 年，卷（期）: 2018,（1）
• 页码范围: 80-86
• 页数: 7页
• 分类号: TP7
• 字数: 6877字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11972/j.issn.1001-9014.2018.01.015

摘要

农作物重金属污染监测是当今高光谱遥感研究的重要内容之一.重金属污染会引发农作物光谱畸变,但不同污染程度的作物光谱在形态上仍具有极高相似度,所以监测其畸变的关键问题之一是如何提取相似光谱间污染的弱差信息.本研究将变分模态分解(VMD)理论引入到光谱信息弱变化监测中,并结合包络线去除(CR)与欧式距离(ED)方法构建了光谱弱差信息的VMD-CR-ED测度模型,通过与光谱角(SA)与光谱相关系数(SCC)等常规光谱测度算法进行应用比较,证明VMD-CR-ED模型在有效区分玉米叶片的不同胁迫程度方面更具有优越性.同时,分析了VMD-CR-ED模型与玉米叶片光谱8个特征子波段的相关性.最后,基于检验数据验证了VMD-CR-ED测度模型在农作物铜铅污染监测方面具有可行性和可靠性.