Fly-Back原边控制芯片中负电流的影响和防护

• 作者: 孙俊岳
• 来源期刊: 电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: Fly-Back 原边控制 负电流
• 年，卷（期）: 2018,（1）
• 所属期刊栏目: 电子技术研发
• 页码范围: 18-20
• 页数: 3页
• 分类号: TN433
• 字数: 1951字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0755.2018.01.005

摘要

首先阐述了在Fly-Back原边控制芯片中负电压和负电流的产生机理,以及芯片内部寄生双极晶体管对负电流的连锁反应机理,并以NPN带隙基准电压源为例分析了负电流对芯片可能造成的影响,最后提出了一系列在芯片内部可以采取的防护措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙俊岳		2	0	0.0	0.0