FPGA可编程资源测试技术研究

• 作者: 唐金慧 张金凤 马成英
• 来源期刊: 电子元器件与信息技术
• 关键词: SRAM型FPGA 测试技术 发展趋势
• 年，卷（期）: 2018,（7）
• 所属期刊栏目: 信息技术
• 页码范围: 59-62
• 页数: 4页
• 字数: 3055字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2096-4455.2018.07.017

摘要

随着FPGA集成度和微电子工艺的不断提升,其复杂性必然会导致电路中存在各种故障的隐患.因此,为了保证FPGA芯片的可靠性和安全性,对FPGA的测试尤为重要.在本文中,首先介绍FPGA的背景及其特点,然后提出了对于FPGA测试的必要性,并基于SRAM型FPGA的基本结构,分别从可编程逻辑资源、内嵌功能模块和可编程互联资源等方面介绍FPGA可编程资源的测试技术.主要利用"分治法"对不同的模块组成部分采取不同的测试方法,分别设计相应的测试文件,对FPGA进行多次的配置和测试,在各个测试文件里尽量全面地考察对应部分的资源.最后本文从FPGA测试的热点问题,对当前FPGA测试的发展趋势进行了探讨.