利用噪声谱表征二氧化钒薄膜的光学相变特性

• 作者: 刘剑 姬扬 尚雅轩 梁继然 赵一瑞
• 来源期刊: 红外与毫米波学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 二氧化钒薄膜 噪声谱 同步测量 半导体-金属相变 反射率
• 年，卷（期）: 2018,（5）
• 页码范围: 595-598,641
• 页数: 5页
• 分类号: O484
• 字数: 1852字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11972/j.issn.1001-9014.2018.05.012

摘要

利用自主搭建的实验系统,同步实时地测量了热致相变材料二氧化钒(VO2)薄膜在相变过程中的反射率及其涨落(噪声谱).实时傅里叶变换采集卡测得的噪声谱不仅可以像反射率测量一样给出样品的相变温度(55℃),还在样品的高温区金属相里发现了一个明显的噪声峰(位于15～ 20 MHz),而低温区半导体相的噪声谱几乎是平坦的.这种噪声峰也反映了薄膜样品中低温半导体相和高温金属相的晶体结构差异.噪声谱测量可以广泛地应用于相变材料的研究.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘剑	中国科学院半导体研究所半导体超晶格国家重点实验室	66	379	12.0	17.0
5	梁继然		31	108	6.0	8.0
6	姬扬	中国科学院半导体研究所半导体超晶格国家重点实验室	42	12	2.0	2.0
10	尚雅轩	中国科学院半导体研究所半导体超晶格国家重点实验室	6	6	2.0	2.0
14	赵一瑞		2	1	1.0	1.0