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摘要:
利用射频磁控溅射方法在蓝宝石衬底上制备了氧化钒薄膜,X射线衍射的测量结果表明薄膜的主要成分是多晶二氧化钒.实现了二氧化钒薄膜半导体-金属相变过程的电阻和五个不同波长下薄膜反射率的同步测量.实验结果表明,电学和光学测量都在相变过程中出现回滞曲线,但是二者的表现形式有明显差别.当用光学方法探测时,同一次相变过程中不同区域的反射率曲线几乎完全重合,证明了薄膜样品的均匀性.
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内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 利用同步测量研究二氧化钒薄膜的电学与光学相变特性
来源期刊 红外与毫米波学报 学科 物理学
关键词 二氧化钒薄膜 电学方法 光学方法 同步测量 反射率
年,卷(期) 2014,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 426-429
页数 4页 分类号 O484|O472
字数 2644字 语种 中文
DOI 10.3724/SP.J.1010.2014.00426
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘剑 中国科学院半导体研究所 66 379 12.0 17.0
2 杨伟 中国科学院半导体研究所 27 58 5.0 6.0
3 梁继然 中国科学院半导体研究所 31 108 6.0 8.0
7 姬扬 中国科学院半导体研究所 42 12 2.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
二氧化钒薄膜
电学方法
光学方法
同步测量
反射率
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
红外与毫米波学报
双月刊
1001-9014
31-1577/TN
大16开
上海市玉田路500号
4-335
1982
chi
出版文献量(篇)
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28003
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