聚酰亚胺/纳米二氧化硅复合薄膜的结构和电学性能研究

• 作者: 吴宝华 张明艳 范勇 衷敬和 雷清泉
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 聚酰亚胺薄膜 纳米二氧化硅 复合
• 年，卷（期）: 2004,（5）
• 所属期刊栏目: 材料研制
• 页码范围: 1-3,6
• 页数: 4页
• 分类号: TM215.3|TQ323.7|O484.4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9239.2004.05.001

摘要

在聚酰胺酸的二甲基乙酰胺溶液中,采用甲基三乙氧基硅烷为前驱体,水解原位产生二氧化硅纳米粒子的溶胶-凝胶工艺,制备了聚酰亚胺/纳米二氧化硅复合薄膜.采用红外光谱对薄膜进行了表征,并对薄膜的介电常数、介质损耗和体积电阻率随二氧化硅含量变化进行了分析和讨论.结果表明,二氧化硅的含量在10～15%之间,介电常数、介质损耗和体积电阻率达到最大值并与纯聚酰亚胺薄膜的性能提高;二氧化硅含量进一步增加性能下降并比纯聚酰亚胺薄膜的性能有所下降,加入偶联剂能在适当提高二氧化硅含量下提高薄膜的性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	范勇	哈尔滨理工大学材料科学与工程学院	70	539	13.0	18.0
2	张明艳	哈尔滨理工大学材料科学与工程学院	65	507	13.0	18.0
3	雷清泉	哈尔滨理工大学材料科学与工程学院	83	1178	20.0	30.0
4	吴宝华	哈尔滨理工大学材料科学与工程学院	36	215	9.0	12.0
5	衷敬和	哈尔滨理工大学材料科学与工程学院	6	105	6.0	6.0