电子元器件抗辐射测试平台设计

• 作者: 刘阳 吴建华 李兴隆 王俊霖
• 来源期刊: 中国原子能科学研究院年报：英文版
• 学科: 工学
• 关键词: 电子元器件 测试平台 抗辐射 抗辐射性能
• 年，卷（期）: zgyznkxyjynbywb_2018,（1）
• 页码范围: 187-187,239
• 页数: 2页
• 分类号: TN606
• 语种: 中文

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘阳		13	0	0.0	0.0
2	王俊霖		3	0	0.0	0.0
3	吴建华		5	0	0.0	0.0
4	李兴隆		1	0	0.0	0.0