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摘要:
批间控制(RtR)是半导体晶圆生产过程控制的有效算法.然而,受测量手段与测量成本的限制,难以实时检测晶圆的品质数据,即:存在一定的测量时延,通常该测量时延是随机,时变的,且直接影响批间控制器的性能.为此,本文基于指数加权移动平均(EWMA)算法,提出一种含随机测量时延的扰动估计方法.在分析测量概率的基础上,建立包含测量时延概率的扰动估计表达式;并采用期望最大化(EM)算法估计该测量时延的概率;然后分析系统可能存在的静差项,给出相应的补偿算法;最后讨论系统的稳定性.仿真实例验证所提算法的有效性.
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文献信息
篇名 含随机测量时延的批间控制器设计
来源期刊 控制理论与应用 学科 工学
关键词 批间控制 测量时延 EWMA算法 EM算法
年,卷(期) 2018,(4) 所属期刊栏目 论文与报告
研究方向 页码范围 531-538
页数 8页 分类号 TP273
字数 6137字 语种 中文
DOI 10.7641/CTA.2017.70434
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 潘天红 江苏大学电气信息工程学院 70 723 15.0 24.0
2 王海燕 江苏大学电气信息工程学院 6 14 1.0 3.0
3 谭斐 江苏大学电气信息工程学院 7 19 3.0 4.0
4 高占涛 江苏大学电气信息工程学院 2 1 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
批间控制
测量时延
EWMA算法
EM算法
研究起点
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
控制理论与应用
月刊
1000-8152
44-1240/TP
大16开
广州市五山华南理工大学内
46-11
1984
chi
出版文献量(篇)
4979
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16
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72515
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