基于氧化锌肖特基二极管的电学性能分析

• 作者: 刘航辉 曹耀丰 蔡彬
• 来源期刊: 各界
• 关键词: 半导体材料 氧化锌 电学性能
• 年，卷（期）: 2018,（18）
• 所属期刊栏目: 各界前沿理论
• 页码范围: 184
• 页数: 1页
• 字数: 1754字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-3906.2018.18.153

摘要

半导体材料与技术一直是推动信息时代前进的原动力和发动机,是现代高科技的核心与先导.新型半导体材料的研究和突破,常常导致新的技术革命和新兴产业的发展.本文在对半导体材料的发展极其研究的历程回顾的基础上对氧化锌肖特基二极管的电学性能进行了测试,通过实验发现氧化锌肖特基二极管电流随着光照强度的增加而增加的特性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘航辉		6	2	1.0	1.0
2	蔡彬		4	1	1.0	1.0
3	曹耀丰		2	0	0.0	0.0