梯度折射率光学制备工艺及 检测方法综述

• 作者: 葛爱明 陶欣然
• 来源期刊: 光源与照明
• 关键词: 梯度折射率 制备工艺 光学检测
• 年，卷（期）: 2019,（3）
• 页码范围: 18-24
• 页数: 7页
• 字数: 4664字
• 语种: 中文

摘要

梯度折射率光学器件能够提高成像质量、减小光学系统体积.梯度折射率光学理论的发展始于19世纪,一百多年后才成功制备出梯度折射率光学器件.目前,梯度折射率光学已经在微型光学系统、光通信等领域得到了广泛应用,但是其应用范围仍受制于其制备工艺和检测方法.文章主要介绍梯度折射率光学的发展历程、梯度折射率光学器件的制备工艺及其光学质量的检测方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	葛爱明	复旦大学电光源研究所	9	27	3.0	5.0
2	陶欣然	复旦大学电光源研究所	2	0	0.0	0.0