封装中电源地阻抗测试方法研究

• 作者: 张越 菅端端
• 来源期刊: 中国集成电路
• 关键词: 封装电源阻抗 封装地阻抗 时域反射
• 年，卷（期）: 2019,（1）
• 所属期刊栏目: 测试
• 页码范围: 78-85
• 页数: 8页
• 字数: 7058字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-5289.2019.01.014

摘要

本文通过追溯了微电子器件封装的电源和地阻抗测试方法的发展历史,基于对业界封装阻抗测试方法的分析,比较了同类方法间各自的优势,分析了美军标MIL-STD-883K中封装阻抗测试方法很少修订却长期存在的原因.明确了美军标及其他测试方法的适用范围,总结了封装电源和地阻抗的影响因素,提出了我国相应标准制修订方向的建议.同时,经相关测试结果表明,标准中的现有方法在评估封装阻抗对整体电路影响方面过于简单,需要结合电磁仿真和时域反射方法对封装阻抗影响做出整体评估,从而提高测试的准确度,经过改进的方法可以在我国相应标准的制修订中加以采用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张越		9	23	1.0	4.0
2	菅端端		4	5	2.0	2.0