通过功能B.I Stress实现早期失效筛选

• 作者: 刘宏伟 李焕春 盛娜 赵来钖
• 来源期刊: 中国集成电路
• 关键词: Burn-in 早期失效筛选 stress B.I
• 年，卷（期）: 2019,（3）
• 所属期刊栏目: 设计
• 页码范围: 31-34
• 页数: 4页
• 字数: 2228字
• 语种: 中文

摘要

随着汽车产业的蓬勃发展,满足车规质量标准的IC无疑是各集成电路设计生产企业必争的高端高利市场领域.但是车规领域的质量需求门槛极高,需要设计,加工,筛选共同的努力才能达到车规IC的品质需求.本文介绍一种通过在测试筛选阶段加入基于功能的Burn-in(B.I)Stress,实现对IC逻辑器件早期失效的筛选.建立车规级筛选中不可缺少的一环.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵来钖		2	0	0.0	0.0
2	盛娜		1	0	0.0	0.0
3	李焕春		2	0	0.0	0.0
4	刘宏伟		1	0	0.0	0.0