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摘要:
针对回转体和扁平体结构的大尺寸C/SiC复合材料构件,设计了可表征缺陷检测分辨率的像质计,研究了射线能量、准直器宽度等因素对不同类型构件检测结果的影响情况.结果表明:射线能量、准直器宽度及构件尺寸、形状等因素决定了构件内部缺陷检测分辨率;准直器的选择取决于构件的尺寸、形状等特征;射线能量的选择取决于构件的最大穿透厚度.
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文献信息
篇名 加速器CT无损检测大尺寸C/SiC复合材料构件
来源期刊 核电子学与探测技术 学科 工学
关键词 C/SiC复合材料 加速器CT 准直器 无损检测
年,卷(期) 2019,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 26-30
页数 5页 分类号 TG115.28
字数 1314字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.0258-0934.2019.01.007
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 江柏红 8 14 3.0 3.0
2 于士章 4 5 2.0 2.0
3 高晓进 11 12 3.0 3.0
4 周金帅 7 9 2.0 3.0
5 江玉朗 3 5 1.0 2.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
C/SiC复合材料
加速器CT
准直器
无损检测
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
核电子学与探测技术
双月刊
0258-0934
11-2016/TL
大16开
北京市经济技术开发区宏达南路3号
1981
chi
出版文献量(篇)
5579
总下载数(次)
9
总被引数(次)
21728
论文1v1指导