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摘要:
超精密平面光栅编码器位移测量技术是32~7 nm节点浸没式光刻机的核心技术.通过分析浸没式光刻机平面光栅位置系统的需求和布局,提出了光刻机专用超精密平面光栅编码器的基本需求.针对现有的光栅编码器,开展了基本测量光路方案、相位探测方案、分辨率增强光路方案、离轴/转角允差光路方案、死程误差抑制光路方案的综述分析,提出了现有设计方案面向光刻机应用所需要解决的关键问题.面向亚纳米级测量精度的需求,针对光栅编码器的仪器误差,对周期非线性误差、死程误差、热漂移误差和波前畸变误差进行了综述分析,提出了平面光栅编码器实现亚纳米精度所需要解决的关键问题.本综述为光刻机专用超精密平面光栅编码器的研制提供了参考.
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文献信息
篇名 面向浸没式光刻机的超精密光学干涉式光栅编码器位移测量技术综述
来源期刊 光学精密工程 学科 工学
关键词 浸没式光刻机 光学干涉式光栅编码器 位移测量
年,卷(期) 2019,(9) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 1909-1918
页数 10页 分类号 TH741
字数 8297字 语种 中文
DOI 10.3788/OPE.20192709.1909
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杨富中 清华大学机械工程系摩擦学国家重点实验室 1 0 0.0 0.0
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浸没式光刻机
光学干涉式光栅编码器
位移测量
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期刊影响力
光学精密工程
月刊
1004-924X
22-1198/TH
大16开
长春市东南湖大路3888号
12-166
1959
chi
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