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默升科技首次展示7 nm112 G XSR SerDes
默升科技首次展示7 nm112 G XSR SerDes
原文服务方：
电子产品可靠性与环境试验
摘要：
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赛默飞世尔科技携手戴安，开创色谱质谱分析技术新里程——戴安加入赛默飞世尔科技首场色谱质谱技术交流会在京举办
技术交流会
质谱分析技术
色谱质谱
科技
里程
中国政府
生产工厂
客户体验
赛默飞世尔科技携手戴安强强联合开创色谱质谱分析技术新里程－戴安加入赛默飞世尔科技首场色谱质谱技术交流会在京展开
技术交流会
色谱质谱
质谱分析技术
科技
强强联合
里程
Fisher
戴安公司
基于SerDes系统芯片边界扫描测试设计与电路实现
SerDes
边界扫描测试
串行测试
集成测试
迈世福荣升赛默飞世尔科技中国区总裁
总裁
中国
科技
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文献信息
| 篇名 | 默升科技首次展示7 nm112 G XSR SerDes | ||
| 来源期刊 | 电子产品可靠性与环境试验 | 学科 | |
| 关键词 | |||
| 年，卷（期） | 2019,（3） | 所属期刊栏目 | 可靠性与环境适应性标准信息与行业动态 |
| 研究方向 | 页码范围 | 32 | |
| 页数 | 1页 | 分类号 | |
| 字数 | 语种 | 中文 | |
| DOI | |||
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期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位：
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期：
双月刊
ISSN：
1672-5468
CN：
44-1412/TN
开本：
大16开
出版地：
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号：
创刊时间：
1962-01-01
语种：
中文
出版文献量（篇）
2803
总下载数（次）
0
总被引数（次）
9369
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