基于太赫兹半导体量子阱器件的光电表征技术及应用

• 作者: 曹俊诚 谭智勇
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 物理学
• 关键词: 太赫兹技术 量子级联激光器 量子阱探测器 光电表征 快速调制与探测
• 年，卷（期）: 2019,（6）
• 所属期刊栏目: “太赫兹科学与技术”专题
• 页码范围: 28-41
• 页数: 14页
• 分类号: O436
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/CJL201946.0614004

摘要

光电表征技术是太赫兹应用技术的重要基础,涵盖了太赫兹频段光电器件表征、光谱测量、光束改善以及通信和成像应用等多个方面,在太赫兹应用领域中发挥着重要作用.介绍了太赫兹频段两种半导体量子器件的工作原理和最新进展,综述了二者在太赫兹脉冲功率测量、探测器响应率标定等光电表征技术中的应用及其在太赫兹快速调制与探测、太赫兹扫描成像系统中的应用,最后介绍了太赫兹光电表征技术的改善,包括激光源光束质量改善和探测器有效探测面积的提高方法等,并给出了器件及表征技术的潜在应用.