某弹上存储装置的FLASH阵列无效块管理可靠性设计

• 作者: 郑润
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 组合块 无效块检测 存储矩阵 流水线 可靠性 FLASH
• 年，卷（期）: 2019,（1）
• 所属期刊栏目: 电子技术及应用
• 页码范围: 143-146
• 页数: 4页
• 分类号: TN409-34|TP301
• 语种: 中文
• DOI: 10.16652/j.issn.1004-373x.2019.01.032

摘要

针对某弹上存储设备的性能测试要求,以及FLASH芯片存储时无效块管理困难的特性,为了实现数据的大容量、高速存储需求,在流水线架构下提出应用无效块快速检测和管理的方法.将FLASH存储矩阵的地址分块组合后,对组合后的存储单元进行无效块识别、处理.另外,对工程应用中突发无效块导致的数据存储不连续的问题,采用滞后重新写入的方法.经过相关参数的测试,该方法已经成功运用到某弹上存储器.通过大量试验证明,存储体系的存储速率以及容量均满足设计指标,工作稳定可靠.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑润	中北大学电子测试技术国家重点实验室	2	0	0.0	0.0