原文服务方: 计算机测量与控制       
摘要:
应用机器视觉实现磁片表面缺陷的自动检测可以提高生产效率、降低生产成本;深度卷积神经网络具有高精度的分类性能,尤其在图像识别方面有显著的优点;但是目前提出的深度神经网络模型,由于参数量和计算量的巨大,在工业生产流水线上不能满足实时检测的需求;针对这个问题,基于深度可分离卷积和通道混洗,提出了一种轻量级高效低延时的卷积神经网络架构MagnetNets;为了评估MagnetNets网络模型的性能,将MagnetNets网络模型与MobileNets、ShuffleNet、Xception、Mobile-NetV2在公开数据集ImageNet中做了对比实验;然后将MagnetNets网络模型应用在磁片缺陷检测系统中进行缺陷检测;实验结果表明,提出的网络架构显著地减少参数数量,具有良好的性能;同时在磁片缺陷检测系统中减少了延时,提高检测速度,缺陷检测识别率达到了97.3%.
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文献信息
篇名 基于轻量级卷积神经网络的实时缺陷检测方法研究
来源期刊 计算机测量与控制 学科
关键词 卷积神经网络 深度可分离卷积 通道混洗 缺陷检测
年,卷(期) 2019,(6) 所属期刊栏目 测试与故障诊断
研究方向 页码范围 22-25,40
页数 5页 分类号 TP3
字数 语种 中文
DOI 10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2019.06.006
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 姚明海 浙江工业大学信息工程学院 91 1088 17.0 30.0
2 杨圳 浙江工业大学信息工程学院 3 4 2.0 2.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
卷积神经网络
深度可分离卷积
通道混洗
缺陷检测
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
计算机测量与控制
月刊
1671-4598
11-4762/TP
大16开
北京市海淀区阜成路甲8号
1993-01-01
出版文献量(篇)
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