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二值化数字散斑功率谱理论研究
二值化数字散斑功率谱理论研究
作者:
刘晓鹏
刘聪
吴文杰
徐志洪
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
测量
二值化散斑
功率谱
理论分析
Wiener-Khintchine定理
摘要:
散斑质量评价的关键在于构建能够描述散斑特征参数与数字图像相关方法测量误差关系的模型.现今缺少描述散斑图案与其功率谱之间关系的理论分析模型.基于此,从随机过程分析角度出发,先构建了二值化散斑的自相关函数与散斑占空比、散斑半径、灰度值等参数的关系.依据Wiener-Khintchine定理得出了二值化散斑功率谱的理论解析形式.利用数值实验的方式对理论分析结果进行了验证.结果 表明:理论推导的结果在功率谱主瓣以及其附近的几个旁瓣上与数值实验结果较吻合,功率谱主瓣极值与实验结果契合程度高.该模型可以应用于后续的散斑误差分析工作.
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文献信息
篇名
二值化数字散斑功率谱理论研究
来源期刊
光学学报
学科
物理学
关键词
测量
二值化散斑
功率谱
理论分析
Wiener-Khintchine定理
年,卷(期)
2020,(3)
所属期刊栏目
仪器,测量与计量
研究方向
页码范围
68-73
页数
6页
分类号
O436
字数
语种
中文
DOI
10.3788/AOS202040.0312002
五维指标
作者信息
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徐志洪
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功率谱
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研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
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光学学报
主办单位:
中国光学学会
中国科学院上海光学精密机械研究所
出版周期:
半月刊
ISSN:
0253-2239
CN:
31-1252/O4
开本:
大16开
出版地:
上海市嘉定区清河路390号(上海800-211信箱)
邮发代号:
4-293
创刊时间:
1981
语种:
chi
出版文献量(篇)
11761
总下载数(次)
35
总被引数(次)
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