基于改进型LFSR的低功耗MBIST地址生成器

• 作者: 冯洋 李青青 虞致国 顾晓峰
• 来源期刊: 测试科学与仪器
• 学科: 工学
• 关键词: 地址序列 线性反馈移位寄存器 存储器内建自测试 地址生成器 翻转率
• 年，卷（期）: 2020,（3）
• 页码范围: 205-210
• 页数: 6页
• 分类号: TP333
• 字数: 776字
• 语种: 英文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-8042.2020.03.001

摘要

存储器进行内建自测试(Mernory built-in self-test,MBLST)时,其功耗远远高于普通模式下的功耗,致使电路易损坏并降低了芯片成品率.针对上述问题,提出了一种改进的线性反馈移位寄存器,可在存储器内建自测试的地址序列生成过程中大幅降低翻转率.首先基于优化的地址分割比生成两个优化的、可逆的地址生成器,随后利用时钟信号分别控制两个地址生成电路的时序关系,最后对64 k×32 SRAM的MBIST的地址生成器进行了仿真验证.结果表明,改进的结构与传统的线性反馈移位寄存器(Linear feedback shift register,LFSR)的地址生成结构相比,地址序列间的翻转率和动态功耗分别降低了71.1％和68.2％,同时具有面积成本低、速度快等特点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	虞致国	江南大学电子工程系	26	46	4.0	5.0
5	冯洋	江南大学电子工程系	4	7	2.0	2.0
9	李青青	江南大学电子工程系	1	0	0.0	0.0