集成电路低功耗测试生成器的研究

• 作者: 游子毅 王义
• 来源期刊: 中北大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路测试 测试向量生成器 低功耗测试 随机单输入跳变 可配置2D-LFSR
• 年，卷（期）: 2011,（6）
• 所属期刊栏目: 电子与电子信息
• 页码范围: 775-779
• 分类号: TN4
• 字数: 3198字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-3193.2011.06.023

摘要

分析了CMOS集成电路的功耗来源,介绍了CMOS集成电路的低功耗测试向量生成器的电路结构.为了减少被测电路内部节点的开关翻转活动率,提高相邻测试向量之间的相关性,研究了随机单输入跳变测试向量生成器和基于可配置二维线性反馈移位寄存器测试向量生成器的实现方案.给出了内建自测试环境下的电路测试结构图,可以在不损失故障覆盖率的前提下,降低被测电路的开关翻转活动率,实现测试期间的低功耗,适合于CMOS集成电路的内建自测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王义	贵州师范大学物理与电子科学学院	43	165	7.0	10.0
2	游子毅	贵州师范大学物理与电子科学学院	14	32	3.0	5.0