面内双轴应力作用下单层黑磷能带性质研究

• 作者: 刘贵鹏 杨建红 王洁 田永辉 许炎
• 来源期刊: 原子与分子物理学报
• 学科: 化学
• 关键词: 单层黑磷 平面内双轴应力 能带结构 带隙
• 年，卷（期）: 2020,（2）
• 所属期刊栏目: 团簇与纳米结构
• 页码范围: 199-205
• 页数: 7页
• 分类号: O64
• 字数: 3228字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0364.2020.02.007

摘要

通过第一性原理对平面内双轴应力作用下的单层黑磷能带结构进行了计算.双轴拉伸应力作用下单层黑磷始终保持直接带隙性质,双轴压缩应力作用下的单层黑磷则发生了直接带隙转变为间接带隙的现象,当双轴压缩应力增加到7％时单层黑磷带隙闭合.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨建红	兰州大学物理科学与技术学院	44	143	6.0	9.0
2	王洁	兰州大学物理科学与技术学院	4	3	1.0	1.0
3	许炎	兰州大学物理科学与技术学院	1	0	0.0	0.0
4	刘贵鹏	兰州大学物理科学与技术学院	2	2	1.0	1.0
5	田永辉	兰州大学物理科学与技术学院	2	0	0.0	0.0