AMOLED亮点不良修复方法

• 作者: 朱世楠 李楠
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: 有源矩阵有机发光二极体面板 亮点 修复 阴极
• 年，卷（期）: 2020,（3）
• 所属期刊栏目: 材料与器件
• 页码范围: 198-204
• 页数: 7页
• 分类号: TN383+.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/YJYXS20203503.0198

摘要

为了提高有源矩阵有机发光二极管面板(AMOLED)亮点不良修复成功率,优化设备性能,本文研究一种AMOLED亮点修复方法,实现阴极隔离原理.由装置激光调形机构(Slit)的激光修复设备构造一束固定形状和频率的脉冲激光束.该激光束透过AMOLED面板封装层,照射目标亚像素上方阴极膜层,使目标亚像素发光层与面板整体阴极隔断,阴极电子无法迁移至目标亚像素发光层,目标亚像素由亮点变为暗点,达到亮点修复目的.提出并比较了矩形修复法与线修复法,结果表明:矩形修复方法成功率为33.5％,容易出现封装层损伤,信赖性风险高;线修复方法成功率为100％,无封装层损伤风险,信赖性风险低.将线修复方法导入量产后,亮点不良修复良率由96.9％提升至100％.