多层胶接结构固化特性太赫兹多元特征统计分析

• 作者: 任姣姣 张丹丹 朱运东 胡声炎 顾健
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 工学
• 关键词: 成像系统 太赫兹时域光谱 固化时间 数理统计 飞行时间
• 年，卷（期）: 2020,（8）
• 所属期刊栏目: 太赫兹技术
• 页码范围: 303-310
• 页数: 8页
• 分类号: O433.1|TB114.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/CJL202047.0814002

摘要

基于太赫兹时域光谱技术对胶层的固化特性进行分析,研究胶层的消光系数与折射率在固化周期内的变化趋势.利用高斯曲线拟合后的多层胶接结构能量积分值、飞行时间(TOF)的均值和半峰半宽两个特征值来表征多层胶接结构的固化特性.结果 表明,固化96 h后,两个特征值的统计结果逐渐稳定.胶层的消光系数和折射率有相同的变化趋势,证明胶层固化在96 h左右基本完成.采用的能量积分值与TOF两个特征值可以间接地作为胶接工艺中固化终点的评价指标,进而提高了材料检测水平.